蔡司关联扫描电镜—拉曼成像平台（RISE）将共聚焦拉曼成像系统（CRM）集成在SEM舱室中。具有优异表面分析能力的SEM成像与Raman分析功能优势结合，助力您的研究更上一层楼。

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蔡司双束电镜Crossbeam系列，是专为高通量3D分析和样品加工制备量身打造的FIB-SEM双束电镜。无论是在科研实验室或工业环境中工作，抑或是单用户或多用户工作环境，都能提供高质量的解决方案。

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JEM-1400/STEM system可以得到扫描透射的明场和暗场图象，适合对生物样品和高分子材料进行STEM观察。

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触摸屏，内置直线，角度，面积，十字线测量功能，所有测量全部通过触摸选点方式完成，每个端点都可支持微移，从而达到准确的测量效果可以保存测量数据图与原始拍摄图像。

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透射电子显微镜(高分辨率通用型TEM)

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对于相同的放大倍率，高数值孔径物镜收集更多的光线，产生一个明亮和更好的校正图像的整体形象更好地成反比是放大率的平方物镜的解决。

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Hitachi FE-SEM 5000电子扫描显微镜　　　我们专业提供以下半导体FE-SEM量测设备：型号： Hitachi FE-SEM 5000原设备制造商：Hitachi类别：电子扫描显微镜 量测设备 状态：专业翻新 (.) 或者AS IS WHERE IS技术指标：等于原厂技

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